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| Sensor: | HELOS | BR: 0,1 µm - 875 µm KR: 0,1 µm - 8750 µm VARIO: 0,1 µm - 8750 µm |
| Messprinzip: | Laserbeugung1 | l = 632,8 nm1 |
| Dispergierung | Anpaßbare Module | Aerodispersion, Sprays, Suspensionen, Emulsionen |
| Messung: | Multielementdetektor Frequenz |
31 semizirkulare Elemente 2000/s, Autozentrierung |
| Auswertung: | Fraunhofer Enhanced Evaluation FREE | Mie Extended Evaluation MIEE als Option |
| Messbereiche: | optische Module | R1 bis R8 |
| Leistungsmerkmale: | Genauigkeit Wiederholbarkeit Vergleichbarkeit x10, x50, x90 |
s < 2% mittlere Std. Abw. zum Absolutwert s < 0.04% typisch (Wiederholungsmessung) s < 0,3% typisch (geteilte Proben) s < 1% mittlere rel. Standardabweichung /Dx/ < 2,5% rel max. Abweichung < 5% rel. Submikronabweichung |
| Steuerung: | WINDOX-Software | WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof. |
| Ausstattung: | Laserleistung Schutzklasse/Typ Strahldurchmesser (1/e²) |
5 mW 3A/IP40 R1 & R2 : 2,2 mm R3-R5: 13 mm R6 & R7: 26 mm R8: 35mm |
| QS-System | Zertifizierung Referenzmaterial Validierung |
Standardtestprozedur SiC - F1200 (x50 = 4,5 µm) SiC - P600 ( x50 = 27µm) SiO2 - F34 (x50 = 260 µm) SiC -P 50 (x50 = 430µm) FDA zugelassen |
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Alle Sensoren der HELOS/BR- und HELOS/KR_Serie sind
Klasse 1 Laserprodukte.
Nicht direkt in den Strahl schauen..
Die Sensoren der HELOS/KR-Vario- Serie sind Klasse 3R Laserprodukte. Nicht direkt in den Strahl schauen.